2025 e4ds Tech Day

지난 9월9일 화요일, 서울 강남구 ST센터에서 반도체·AI·자율주행 등 글로벌 테크 핵심 이슈를 총망라한 컨퍼런스가 열렸습니다.

올해의 주제는 반도체 중심 전력 효율화, AI 및 자동차 기술의 미래와 변화였습니다.

최근 산업 전반에서 가장 큰 화두는 바로

• 전력 효율성 확보
• AI의 폭넓은 확산
• 미래 모빌리티 혁신

이번 컨퍼런스는 이러한 키워드를 한자리에서 조망할 수 있는 자리였으며, 다양한 업체들이 참여해 차세대 기술력에 대한 인사이트를 공유했습니다.

​이번 행사에서 저희는 고전력 다이나믹 신뢰성 테스트 솔루션을 소개했습니다.

이는 WBG 고전력 반도체의 정확한 수명 예측을 위한 최적의 테스트 방법으로, 업계 관계자들의 많은 관심을 받았습니다.

행사에서는 세 가지 핵심 트랙으로 나누어 발표가 이어졌습니다.

• 첨단 전력 반도체 혁신
• 온디바이스 AI
• 자율주행 및 소프트웨어 정의 차량(SDV)의 미래

행사는 단순히 기술 발표에 그치지 않고

• R&D부터 제품 개발·생산·품질관리까지 실무 솔루션 제공
• 글로벌 선두 기업들의 실제 사례와 인사이트 확인
• 네트워킹을 통한 산업 협업 기회 확대

저희가 선보인 Dynamic 신뢰성 테스트 솔루션은 AQG-324의 Lifetime testing 항목을 충실히 지원합니다.

• DGS (Dynamic Gate Stress)
• DRB (Dynamic Reverse Bias)
• D-H3TRB (Dynamic High-Humidity, High-Temperature Reverse Bias)
• D-HTFB (Dynamic High-Temperature Forward Bias)

기존 Static 테스트 솔루션과 가장 큰 차이점은, 단순히 정적인 전압을 인가하는 것이 아니라 실제 응용 환경과 유사한 동적인 전압 스트레스를 인가한다는 점입니다.

즉, 반도체가 실제 제품 환경에서 받는 조건과 더 가까운 방식으로 테스트를 수행할 수 있습니다.

이번 2025 e4ds Tech Day는 저희 SCV와 NI에게도 매우 뜻깊은 자리였습니다.

단순한 홍보가 아닌, 실제 산업 현장에서 꼭 필요한 신뢰성 테스트 솔루션을 공유하고, 업계 전문가들과 깊이 있는 대화를 나눌 수 있었기 때문입니다.

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